Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“. Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas. 2000.
whole wafer exposure — visos plokštelės eksponavimas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. full wafer exposure; whole wafer exposure vok. Gesamtscheibenbelichtung, f; Gesamtwaferbelichtung, f rus. экспонирование по всему полю пластины, n pranc.… … Radioelektronikos terminų žodynas
Full-frame digital SLR — The sizes of sensors used in most current digital cameras, relative to a 35mm film frame. A full frame digital SLR is a digital single lens reflex camera (DSLR) fitted with an image sensor that is the same size as a 35 mm (36×24 mm) film… … Wikipedia
Gesamtscheibenbelichtung — visos plokštelės eksponavimas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. full wafer exposure; whole wafer exposure vok. Gesamtscheibenbelichtung, f; Gesamtwaferbelichtung, f rus. экспонирование по всему полю пластины, n pranc.… … Radioelektronikos terminų žodynas
Gesamtwaferbelichtung — visos plokštelės eksponavimas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. full wafer exposure; whole wafer exposure vok. Gesamtscheibenbelichtung, f; Gesamtwaferbelichtung, f rus. экспонирование по всему полю пластины, n pranc.… … Radioelektronikos terminų žodynas
exposition de la tranche entière — visos plokštelės eksponavimas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. full wafer exposure; whole wafer exposure vok. Gesamtscheibenbelichtung, f; Gesamtwaferbelichtung, f rus. экспонирование по всему полю пластины, n pranc.… … Radioelektronikos terminų žodynas
visos plokštelės eksponavimas — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. full wafer exposure; whole wafer exposure vok. Gesamtscheibenbelichtung, f; Gesamtwaferbelichtung, f rus. экспонирование по всему полю пластины, n pranc. exposition de la tranche entière, f … Radioelektronikos terminų žodynas
экспонирование по всему полю пластины — visos plokštelės eksponavimas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. full wafer exposure; whole wafer exposure vok. Gesamtscheibenbelichtung, f; Gesamtwaferbelichtung, f rus. экспонирование по всему полю пластины, n pranc.… … Radioelektronikos terminų žodynas
radiation measurement — ▪ technology Introduction technique for detecting the intensity and characteristics of ionizing radiation, such as alpha, beta, and gamma rays or neutrons, for the purpose of measurement. The term ionizing radiation refers to those… … Universalium
Coeliac disease — Classification and external resources Biopsy of small bowel showing coeliac disease manifested by blunting of villi, crypt hyperplasia, and lymphocyte infiltration of crypts ICD 10 … Wikipedia
Diffraction topography — (short: topography ) is an X ray imaging technique based on Bragg diffraction. Diffraction topographic images ( topographs ) record the intensity profile of a beam of X rays (or, sometimes, neutrons) diffracted by a crystal. A topograph thus… … Wikipedia
